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導(dǎo)航

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對于半導(dǎo)體前工序的多種需求-大塚膜厚儀的特點(diǎn)和作用

本次研討會介紹我司膜厚儀產(chǎn)品在半導(dǎo)體前工序，從裸晶片到配線工序的特點(diǎn)及應(yīng)用。研討會內(nèi)容涉及半導(dǎo)體制造工序、晶圓厚度和氧化膜膜厚測量技術(shù)等。

光波動場三次元顯微鏡的介紹

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。

AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹

1.VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量 2.LCoS液晶盒盒厚檢測 3.Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估 4.透光多層材料中的異物檢測 5.和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

對于半導(dǎo)體前工序的多種需求-大塚膜厚儀的特點(diǎn)和作用

本次研討會介紹我司膜厚儀產(chǎn)品在半導(dǎo)體前工序，從裸晶片到配線工序的特點(diǎn)及應(yīng)用。研討會內(nèi)容涉及半導(dǎo)體制造工序、晶圓厚度和氧化膜膜厚測量技術(shù)等。

光波動場三次元顯微鏡的介紹

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。

AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹

1.VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量 2.LCoS液晶盒盒厚檢測 3.Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估 4.透光多層材料中的異物檢測 5.和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

晶圓和漿料靜電相互作用的評估與半導(dǎo)體工藝技術(shù)簡介

研磨液、半導(dǎo)體研磨工序、CMP及BG設(shè)備商，臨時鍵合及蝕刻工序、半導(dǎo)體缺陷檢測、相關(guān)大學(xué)及研究機(jī)構(gòu)。

膜厚儀的測試手法、操作技巧及故障排除

無法測出正確的反射率、測試數(shù)據(jù)波動大、解析條件如何設(shè)置？擬合度差,nk怎么解析？是對焦位置不正確？是鏡頭選用不正確？還是測試條件&解析條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的測試?yán)Щ螅堃欢▍⒓游宜镜木W(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會。

由日本粒徑測量專家講解的DLS測量手法及技巧介紹

2025/10/23 15:00~16:00，蘇州線上講習(xí)會，由日本粒徑測量專家講解的DLS測量方法技巧介紹，DLS測量和分析原理、樣品制備的注意點(diǎn)、測量·解析時的故障排除說明。

大塚電子參加第十三屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展

大塚電子誠邀您共赴半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展盛會——第十三屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我們將在無錫太湖國際博覽中心2F A6-625展位恭候您的蒞臨！

偏光片相位差·吸收軸測試原理及應(yīng)用案例

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客戶，以及對偏光、相位差測量技術(shù)感興趣的各界賓客。

DIC EXPO 2025精選展商丨大塚電子，利用技術(shù)“光”的力量，提供完美的解決方案

粒徑分布 · Zeta電位測量原理及最新的測量案例介紹

測量案例：電池行業(yè)（炭黑、碳納米管等）、半導(dǎo)體行業(yè)（晶圓、CMP漿料等）、生物·醫(yī)藥（凝膠粒子、納米金粒子等）、食品化妝品行業(yè)（氧化鈦等）。

膜厚設(shè)備介紹（smart膜厚儀）

應(yīng)用領(lǐng)域：光學(xué)膜、接著劑、硬化涂層、半導(dǎo)體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

對于半導(dǎo)體前工序的多種需求大塚膜厚儀的特點(diǎn)和作用

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。

光波動場三次元顯微鏡MINUK的介紹

大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。

晶圓和漿料靜電相互作用的評估與半導(dǎo)體工藝技術(shù)簡介

大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

DLS測量手法及技巧介紹（2024/12/18）

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。

平板狀·薄膜狀樣品的ZETA 電位測量與應(yīng)用的介紹（2024/11/27）

大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應(yīng)用。

納米粒度儀的基本操作&故障排除-蘇州線上講習(xí)會（2024-10-23）

無法測試出預(yù)想的結(jié)果，測試數(shù)據(jù)波動這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對？還是測試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會。

晶圓和研磨液靜電相互作用的評價方法和半導(dǎo)體制程技術(shù)介紹（2024-07-24）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價格和報價...

偏光片相位差·吸收軸測試原理及應(yīng)用案例-蘇州線上講習(xí)會（2024-5-22）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價格和報價...